一、设备类型与型号

蒸气老化试验箱（ESAT 系列）

型号示例：ESAT-018、ESAT-025

用途：模拟高温高湿环境，测试半导体接脚、连接器、被动元件的氧化耐受性及金属沾锡性能。

换气式老化试验箱（EAT 系列）

型号示例：EAT-101、EAT-216

用途：通过可控换气率（5~300 次 / 小时）加速材料老化，适用于电子元器件寿命测试。

高温老化房 / 烧机室（EBIR 系列）

型号示例：EBIR-1000（建议补充具体型号后缀）

用途：大型设备老化测试，如服务器、电源模块的预烧（Burn-in）处理，筛除早期失效产品。

二、主要特点

材料与结构

内箱体采用 SUS 304 不锈钢，耐腐蚀性强；外箱为防锈钢板喷塑，保温层为超细玻璃棉。

控制与安全

PID+SSR 智能温控系统，精度达 ±0.5℃，支持多段编程（如 EAT 系列支持 8 段控温）。

特殊功能

换气式老化箱配备 动态转盘（转速 810rpm）和 瓦特小时计，精确计算换气量。

三、应用场景

半导体制造：晶圆接脚氧化测试、封装材料热老化（如 ESAT 系列）。

电子元器件：电容、电阻、连接器的加速寿命试验（EAT 系列）。

整机可靠性验证：服务器、电源模块的预烧处理（EBIR 系列），符合 UL、IEC 等行业标准。

补充场景：

汽车电子：符合 AEC-Q100 标准的高温存储测试（150℃/1000 小时）。

军工领域：满足 MIL-STD-883H 的高温反偏测试（150℃/2000 小时）。

四、典型参数概览