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igbt功率循环测试仪

所属栏目:泛半导体

发布时间:2025-06-04

关注度:172次

简单介绍:igbt功率循环测试仪集成瞬态热阻测试(精度0.01°C)与多通道独立功率循环功能,支持IGBT/HEMT器件结构函数实时监测及In-field工况模拟,符合JEDEC/AEC车规标准。

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产品详情

安全监控单元: 烟雾监控/报警   漏液监控/报警  设备内部温度监控/报警  设备外部温度监控/报警


设备运行状态监控/报警  系统状态塔灯  报警蜂鸣器


功率循环专用冷板

根据样品形态定制

可搭配 20x30cm 标准尺寸冷板

全球领先的集成热测试技术

符合 AQG 324 标准的车规级功率循环老化测试;


集成瞬态热阻测试仪的所有功能,可在功率循环过程中穿插瞬态热测试,对样品结构变化进行在线监控;


可定制电流驱动能力,可定制电流通道数量与采集通道数量;


专为大功率半导体器件打造的功率循环老化、瞬态热测试实验平台。


技术参数


功率循环测试
加热通道加热电源500A x4(可定制)
每个电源通道搭配4个数据采集通道
功率脉冲最小脉冲宽度200ms
最大脉冲宽度无限制
老化模式恒定电流、恒定功率、恒定 Tj、恒定△Tj、恒定△Tc
主机与测试台分离式每个电流通道独立工作,可独立设定老化条件,通道之间互不干扰,可分别启动、停止任意测试通道
16个数据采集位+4个NTC采集位
每个电源通道配4个用户自定义温度监控点(选配)
电学数据监控(每个周期采集)老化电压(Vce/Vds/Vf)
老化电流
老化功率
器件失效判定可设定多种样品失效判定条件电压判定、电流判定、功率判定
Tj判定、△Tj判定、Zth判定
失效条件触发后提供报警、暂停老化
老化数据断点恢复,防止不可预知的上位机故障造成老化数据丢失
远程监控采用B/S架构控制系统、可整合到用户自有设备管理网络系统中
可使用任意终端的浏览器通过网络访问设备,进行状态监控和设备控制
通过远程监控设备,能随时查看当前的测试setup 情况,测试工况(测试电流Ton和 Toff等),器件的循环次数,实时状态(导通压降,热阻等)以及其他测试相关参数(如冷却液流量,冷却液温度)信息
可远程查看样品故障信息(失效,短路,断路等)
远程监控中无任何渠道查看和收集任何客户信息
热学数据监控(每个周期采集)Tj、△Tj、Tc、Tref(用户自定义)
Zth
热结构变化监控(指定周期间隔)设置合理的循环次数,间隔实施瞬态热测试并获得结构函数图谱,通过图谱对样品内部热结构的阶段性变化进行在线监控和分析





功率循环用水冷机参数

以下为参考配置,可根据具体情况定制;
类型需求备注
设备水冷机制冷功率/KW/每组25 ℃@20KW指定温度下
加热功率/KW10KW
介质温度范围/℃0-100
控温精度/℃±0.5
流量范围/L/min1~20
流量精度/L/min±0.2
冷却介质形式去离子水/50%乙二醇水溶液
流体输出组数/组2
水冷机冷却形式水冷风冷/水冷
冷却水能力14℃@5bar风冷水冷机无需填写
通讯485
其他需求如循环泵压力等




功率循环测试结果示例

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