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桌面式动态可靠性测试系统 PSL-DHTGB/DHTRB-SE
所属栏目：能芯电子
发布时间：2025-08-19
关注度：233次
简单介绍：能芯电子开发的桌面式动态可靠性测试系统（PSL-DHTGB/DHTRB-SE）为开放式的动态可靠性测试系统，支持小批量不同封装形式的单管与模块的DGS/DRB实验。桌面式动态可靠性测试系统（PSL-DHTGB/DHTRB-SE）的设计灵感来自于乐高玩具，通过搭配能芯电子多类型的测试功能板、驱动器、参数采集卡与动
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产品介绍 Production Introduction
能芯电子开发的桌面式动态可靠性测试系统（PSL-DHTGB/DHTRB-SE）为开放式的动态可靠性测试系统，支持小批量不同封装形式的单管与模块的DGS/DRB实验。
桌面式动态可靠性测试系统（PSL-DHTGB/DHTRB-SE）的设计灵感来自于乐高玩具，通过搭配能芯电子多类型的测试功能板、驱动器、参数采集卡与动态可靠性测试软件，结合客户自有的示波器与探头，以搭积木的形式形成设备。该系统具有高性价比、易维护等优点，以最低成本帮助客户实现动态可靠性的测试能力。
桌面式动态可靠性测试系统配套壳体，附赠动态可靠性测试软件，可设置实验参数，监控过程曲线。
桌面式动态可靠性测试系统配套的多种测试功能板，可单独作为配件采购，实现DGS/DRB的测试功能。
产品规格 Product Specifications
| 类别 | 详情 |
|---|---|
测试项目 | DHTGB（DGS）动态栅极偏置可靠性测试 或 DHTRB（DRB）动态反偏可靠性测试 兼容主动式与被动式 |
| Vgs | 典型测试范围：-10~22V |
| Vds | 典型测试范围：520~1200V |
| 频率范围 | 单管TO247-3L/4L：0~1000kHz 模块Easy1B/2B：0~200kHz 模块HPD：0~100kHz （根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 占空比 | 10~90%（根据器件与安装条件取最优值调节） |
dVgs/dt dVds/dt | ≥0.3V/ns（根据器件与安装条件取最优值调节） ≥50V/ns（根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 过冲 | 0（根据器件与安装条件取最优值调节） |
| 监控参数 | Igss，Vth，外壳温度 |
| 加热/冷却方式 | 风冷鳍片，加热板 其中风冷鳍片的降温效果取决于设备所处实验环境， 加热板最高温度至200℃。 |
| 最大容量 | DHTGB（DGS）或DHTRB（DRB） 单管：16颗； 半桥模块（以Easy1B为例）：4个； 三相模块（以HPD为例）：2个； |
